- 日本共立水質(zhì)測(cè)試包
- 美國哈希試劑
- 德國羅威邦試劑
- 德國Lovibond水質(zhì)分...
- 金相切片試驗(yàn)設(shè)備
- 線束端子截面分析儀
- 金相實(shí)驗(yàn)耗材
- 日本SUN物性測(cè)定儀
- 水質(zhì)分析儀
- 工業(yè)PH/ORP計(jì)
- X射線鍍層測(cè)厚儀
- 美國Kwik-Chek孔徑...
- 電鍍層測(cè)厚儀
- 美國WALCHEM加藥控制...
- 美國C6化學(xué)銅鎳控制器
- 日本飯島電子儀器
- 日本智索微生物菌測(cè)試片
- 比重計(jì)/密度計(jì)
- ATP生物冷光儀
- PCB特性阻抗測(cè)試儀
- 離子污染測(cè)試儀
- PCB檢測(cè)儀
- 其它實(shí)驗(yàn)室儀器
- 廢水處理藥劑
金相耗材的質(zhì)量決定著實(shí)驗(yàn)的成敗
金相耗材的質(zhì)量決定著實(shí)驗(yàn)的成敗 ,金相消耗品,項(xiàng)目包括冷凝膠制作套件、加壓鑲嵌消耗品、冷凝制作輔助用品、冷膠膠模、切割碟、含鉆石微粒切割碟、研磨砂紙/砂碟、含鉆石微粒研磨碟、拋光絨布、鉆石拋光膏、鉆石拋光液、拋光粉、含鉆石微粒拋光液、清潔用品及相關(guān)工具、研磨機(jī)、拋光機(jī)、樣品切割機(jī)、超聲波清洗設(shè)備、金相顯微鏡及相關(guān)附件等。部分產(chǎn)品介紹如下:
冷凝膠制作套件:凝固時(shí)間分有5分鐘至8小時(shí),冷凝膠制作套件產(chǎn)品包括凝膠杯(軟身、硬身)、凝固粉、攪拌棒、樣品夾(如:不銹鋼樣片夾、O型塑膠樣片夾、P型塑膠樣片夾、電路板樣片夾、拋光角度調(diào)軟夾、樣品固定夾)、填料粉末、脫模劑、環(huán)氧基樹脂、丙烯酸樹脂、丙烯酸樹脂(進(jìn)階型)、樣品加硬粉、刻度紙杯。環(huán)氧基樹脂擁有高滲透性、低收縮性、抗化學(xué)品的能力,而且非常堅(jiān)固及能有效地固定樣品。
研磨砂紙:研磨砂紙適合研磨濕或干(W/D)的物料,款式多樣化(如:帶狀、圓形、狹長(zhǎng)形、卷狀、大片等等),而且非常耐用,不會(huì)因碰到油、酒精及水而松脫。圓形及卷狀砂紙底部具粘貼性(PSA)。碳化硅(SiC)研磨砂紙適合粗糙及幼細(xì)研磨/拋光。氧化鋁(Al2O3)研磨砂紙適合粗糙及幼細(xì)研磨。圓形砂紙型號(hào)有P60、P120、P180、P280、P400、P800、P1200、P2400及P4000。
切割碟:切割碟分有普通切割碟和含鉆石微粒切割碟。 普通切割碟直徑備有152mm
178mm 229mm 254mm 305mm及356mm。氧化鋁(Al2O3)切割碟適合用在含鐵合金及
鋼的物料;碳化硅(SiC)切割碟適用于中等硬度及較軟而不含鐵的金屬、堅(jiān)硬而不含金屬
的混合物、鈦合金及制陶業(yè)。含鉆石微粒切割碟分有高密度及低密度兩種,直徑有76mm
102mm 127mm 152mm和178mm。高密度切割碟適合經(jīng)常切割金屬及陶瓷;低密度切割
碟適合切割碟容易損壞的物料(如:陶瓷、玻璃、碳化物及其它耐熱物料)。切割時(shí)天家冷
卻液或清水可減低切割時(shí)間及增加切割精準(zhǔn)度。
研磨拋光粉:氧化鋁(Al2O3)及碳化硅(SiC)研磨粉適合做細(xì)致研磨及粗糙拋光。氧化鎂(MgO)研磨粉適合已作細(xì)致拋光的鋁合金、鎂合金及含鎂的物料使用。氧化鐵(Fe2O3)研磨粉適合拋光軟礦石、玻璃、寶石及軟金屬。氧化鉻(Cr2O3)研磨粉適合不能使用氧化鋁研磨粉研磨的物料使用。使用研磨粉時(shí),須與蒸餾水混合使用。
含鉆石微粒拋光液:作一般拋光時(shí),含鉆石微粒拋光液需連拋光粉或拋光膏一并使用。備有0.1um、0.25um、1um、3um、6um、9um、5um、30um及45um。
拋光液:拋光液能令樣品拋光得更佳。Al2O3SiO2(0.05um)拋光液適合冷凝膠樣品做*終拋光,特別適合軟身物料、混合物及陶瓷使用。SiO2(0.05um)拋光液具高PH的特性,而不會(huì)傷害樣品,適合電子零件做*終拋光。CeO(1.0um)適合軟身物料做*終拋光。SiO2適合平面物料作*終拋光。
拋光絨布:多用途拋光絨布適合實(shí)驗(yàn)室使用,有粘貼性及非粘貼性兩款,客戶可要求其它不同大小的拋光絨布。拋光絨布直徑備有50mm 73mm203mm 250mm 305mm 356mm等。